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測厚儀THK-02符合多項國內(nèi)國際標準，嚴格按照標準方法進行測量，有效保證了測試的規(guī)范性和準確性，分辨率達0.1um，廣泛應(yīng)用于薄膜、鋁箔生產(chǎn)企業(yè)、質(zhì)檢機構(gòu)等單位。
?嚴格按照標準設(shè)計的接觸面積和測量壓力，同時支持各種非標定制
?采用高精度光柵傳感器，重復(fù)性更好
?多種測試量程可選，支持非標定制
?測量頭自動升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差
?嵌入式高速微電腦控制，簡潔高效的人機交互界面，為用戶提供舒適流暢的操作體驗
?支持手動和自動兩種模式，供用戶自由選擇
?標準化，模塊化，系列化的設(shè)計理念，可最大限度的滿足用戶的個性化需求
?7寸高清彩色液晶觸控屏，實時顯示測試數(shù)據(jù)
?內(nèi)置微型打印機，可實現(xiàn)實時歷史數(shù)據(jù)打印功能
?標準的RS232接口，便于系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸
?可采用標準厚度計量工具標定、檢驗
?實時顯示測量結(jié)果的最大值、最小值、平均值以及標準偏差等分析數(shù)據(jù)，方便用戶進行判斷
?Pubtester提供客戶專業(yè)定制服務(wù)，可滿足不同用的多種不同測試需求
匠心設(shè)計
?測頭采用標準M2.5螺紋連接方式，可連接各種形式百分表，千分表表頭進行測量
?可拆卸螺紋連接配重塊，可滿足各種標準要求及非標壓力定制
?測量支架采用具有高吸振特性、受溫度變化極小的球墨鑄鐵一體成形，有效減輕了外界震動、溫度變化對測試產(chǎn)生的影響
?進口高速高精度采樣芯片，有效保證測試準確性與實時性
| 項目 | 指標 |
| 測量范圍 | 0～2mm（標配）；0～6mm、0～12mm（選配） |
| 分辨率 | 0.1μm |
| 均勻性 | 0.3μm |
| 測試速度 | 1～25次/min |
| 重復(fù)性 | 0.3μm |
| 測量頭平行度 | ±2μm（機械調(diào)整，量塊校驗） |
| 測量壓力 | 17.5±1kPa(薄膜） 50±1kPa(紙張) |
| 接觸面積 | 50mm2(薄膜)； 200mm2 (紙張)； 薄膜、紙張任選一種，非標可定制 |
| 電源 | AC220V50Hz/ AC120V60Hz |
| 外形尺寸 | 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) |
| 約凈重 | 15Kg |
測厚儀采用接觸式測試原理，截取一定尺寸試樣，將預(yù)先處理好的薄型試樣的一面置于下測量面上，與下測量面平行且中心對齊的上測量面，以一定的壓力，落到薄型試樣的另一面上，同測厚儀測量頭一體的傳感器自動檢測出上下測量面之間的距離，即為薄型試樣的厚度。
該測厚儀符合多項國家和國際標準：ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、GB/T 24218.2、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D6988、ASTM F2251、ASTM D3652、TAPPI T411、TAPPI T411、DIN 53105、DIN 53353、DIN 53370、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 、BS 2782-6、FEFCO No 3、EN 1942
| 基礎(chǔ)應(yīng)用 | 薄膜、薄片、隔膜 | 各種塑料薄膜、薄片、隔膜等的厚度測量 |
| 紙張、紙板 | 各種紙張、紙板、復(fù)合紙板等的厚度測定 | |
| 箔片、硅片 | 適用于箔片、硅片的厚度測試 | |
| 金屬片 | 適用于金屬片的厚度測試 | |
| 紡織材料 | 適用于紡織材料的厚度測試 | |
| 固體電絕緣體 | 適用于固體電絕緣體的厚度測試 | |
| 無紡布材料 | 適用于無紡布材料的厚度測試，如尿不濕、衛(wèi)生巾片材的厚度測試 | |
| 擴展應(yīng)用 | 量程擴展至5mm、10mm | 適用于片材、板材的厚度測試 |
| 曲面測量頭 | 適用于特殊要求的厚度測試 |
標準配置：主機、液晶觸摸屏、電源線、標準量塊
選配件：非標測量頭
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